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3D封裝技術(shù):結(jié)構(gòu)類型、特點與應(yīng)用場景分析
3D封裝(3D Packaging)是先進(jìn)封裝技術(shù)的核心代表,它通過在垂直方向上堆疊多個芯片或晶圓,并通過硅通孔(TSV)等技術(shù)進(jìn)行互連,實現(xiàn)了系統(tǒng)性能的巨大飛躍。它被視為延續(xù)“摩爾定律”生命力的關(guān)鍵技術(shù)之一。

3D封裝不是一個單一的技術(shù),而是一個技術(shù)家族。主要可以分為以下幾類:
1. 2.5D 封裝(2.5D Integration)
結(jié)構(gòu): 這是一種過渡到真正3D封裝的技術(shù)。多個芯片并排排列在一個中介層(Interposer) 上。這個中介層通常由硅制成(也可用玻璃或有機材料),內(nèi)部有高密度的互連線(如微凸塊和再分布層RDL),并通過硅通孔(TSV) 與下方的封裝基板(如PCB)連接。
特點:
核心是中介層:它提供了遠(yuǎn)超傳統(tǒng)PCB的互連密度和帶寬。
芯片異構(gòu)集成:可以將不同工藝節(jié)點、不同功能的芯片(如CPU、GPU、HBM內(nèi)存)集成在一起。
熱管理相對容易:芯片是平鋪的,散熱路徑比3D堆疊更直接。
代表性技術(shù): CoWoS(臺積電)、HBI(英特爾)、SLIM(三星)。
2. 3D 堆疊封裝(3D Stacking / 3D IC)
結(jié)構(gòu): 這才是真正的3D封裝。芯片直接在垂直方向上進(jìn)行堆疊。芯片之間通過微凸塊(Micro-bumps) 和硅通孔(TSV) 進(jìn)行直接、最短路徑的互連。
特點:
極致的互連密度和帶寬:TSV提供了芯片間最短的垂直互連,延遲極低,帶寬極高。
外形尺寸最小化:極大地節(jié)省了空間。
熱挑戰(zhàn)巨大:堆疊的芯片會產(chǎn)生“熱點”,散熱是最大難題。
設(shè)計復(fù)雜:需要考慮應(yīng)力、熱膨脹系數(shù)匹配、信號完整性等諸多問題。
子分類:
同質(zhì)堆疊:堆疊相同類型的芯片,如HBM內(nèi)存(多個DRAM die堆疊)。
異質(zhì)堆疊:堆疊不同功能的芯片,如邏輯芯片堆疊在存儲芯片之上。
代表性技術(shù): SoIC(臺積電)、Foveros(英特爾)、X-Cube(三星)。
3. 芯片堆疊封裝(Chip-on-Wafer / Wafer-on-Wafer)
結(jié)構(gòu): 這是3D堆疊的兩種制造方式。
CoW(Chip-on-Wafer): 將已知良好的芯片(KGD)堆疊到晶圓上。
WoW(Wafer-on-Wafer): 將整個晶圓直接鍵合到另一片晶圓上,然后進(jìn)行切割。
特點:
CoW: 良率高,但工藝更復(fù)雜。
WoW: 工藝簡單,但如果底層晶圓有一個壞點,整個堆疊芯片都會報廢,良率挑戰(zhàn)大。
4. 扇出型封裝(Fan-Out Packaging)與3D結(jié)合
結(jié)構(gòu): 先將芯片嵌入到環(huán)氧樹脂模塑料中,然后在模具上制作高密度的再分布層(RDL)來實現(xiàn)互連和I/O扇出。它可以作為基礎(chǔ),在其上再進(jìn)行2.5D或3D堆疊。
特點:
無需中介層和TSV,成本較低。
可以實現(xiàn)更大的封裝尺寸和更多的I/O數(shù)量。
是集成無源器件和異質(zhì)芯片的良好平臺。
代表性技術(shù): InFO(臺積電)。
優(yōu)點:
性能提升:
高帶寬: TSV和微凸塊提供了遠(yuǎn)超傳統(tǒng)線鍵合的互連密度,實現(xiàn)了TB/s級別的帶寬(如HBM)。
低延遲: 垂直互連將互連長度從厘米級縮短到微米級,顯著降低了信號傳輸延遲和功耗。
低功耗: 更短的互連意味著更小的寄生電容和電阻,從而降低驅(qū)動信號所需的功耗。
異構(gòu)集成: 允許將采用不同工藝技術(shù)優(yōu)化過的芯片(如數(shù)字、模擬、RF、MEMS、光電子)集成到一個封裝中,實現(xiàn)“最佳工藝干最佳的事”。
小型化與輕量化: 顯著減小了封裝尺寸和重量,迎合了移動設(shè)備、物聯(lián)網(wǎng)設(shè)備對極致體積的需求。
功能多樣化: 在一個封裝內(nèi)實現(xiàn)完整的系統(tǒng)功能,邁向“系統(tǒng)級封裝”(SiP)和“芯片級系統(tǒng)”(SoC)。
挑戰(zhàn):
熱管理: 堆疊芯片導(dǎo)致功率密度急劇上升,熱量難以從中間層散出,過熱會嚴(yán)重影響性能和可靠性。需要創(chuàng)新的散熱材料(如導(dǎo)熱硅脂、釬焊)、微流體冷卻等技術(shù)。
制造成本高: TSV刻蝕、薄膜沉積、晶圓鍵合等工藝復(fù)雜,良率管理困難,導(dǎo)致成本高昂。
設(shè)計與測試復(fù)雜: 需要全新的3D EDA設(shè)計工具,進(jìn)行熱、應(yīng)力、電氣的協(xié)同仿真。測試需要在堆疊前(Known Good Die)和堆疊后進(jìn)行,策略復(fù)雜。
可靠性問題: 不同材料的熱膨脹系數(shù)(CTE)不匹配會導(dǎo)致熱應(yīng)力,可能引起界面分層、TSV開裂、凸點疲勞等問題。
高性能計算(HPC)與人工智能(AI)
場景: AI訓(xùn)練芯片、GPU、數(shù)據(jù)中心CPU、FPGA等。這些芯片需要處理海量數(shù)據(jù),對內(nèi)存帶寬和計算單元之間的通信效率要求極高。
應(yīng)用: 普遍采用 2.5D封裝 + HBM 的模式。例如,NVIDIA的GPU(A100, H100)、AMD的EPYC CPU和Instinct GPU、以及各種AI加速卡,都采用臺積電的CoWoS技術(shù)將邏輯芯片和多個HBM堆疊內(nèi)存集成在一起,以提供前所未有的內(nèi)存帶寬。
大容量存儲器
HBM(高帶寬內(nèi)存): 是3D堆疊最成功的應(yīng)用典范。將多個DRAM芯片通過TSV垂直堆疊,與GPU/CPU通過2.5D中介層互聯(lián),廣泛用于HPC和AI領(lǐng)域。
3D NAND Flash: 通過3D堆疊技術(shù)將存儲單元層數(shù)堆疊到數(shù)百層,在不增大芯片面積的情況下指數(shù)級提升存儲容量,是現(xiàn)代SSD的核心技術(shù)。
場景: 需要大容量且高速的存儲解決方案。
應(yīng)用:
移動與消費電子
PoP(Package-on-Package): 一種早期的3D封裝形式,將移動處理器(SoC)和內(nèi)存(LPDDR)上下堆疊,節(jié)省了主板空間。
扇出型封裝(InFO): 如蘋果的A系列/A仿生芯片,采用臺積電InFO技術(shù),實現(xiàn)了更小尺寸、更佳散熱和性能。
異質(zhì)集成: 將處理器、電源管理芯片、射頻模塊等集成于一個封裝內(nèi)。
場景: 智能手機、平板電腦、可穿戴設(shè)備等,對尺寸、功耗和性能有極致要求。
應(yīng)用:
物聯(lián)網(wǎng)(IoT)與邊緣計算
場景: 傳感器節(jié)點、智能設(shè)備等,要求小體積、低功耗、多功能集成。
應(yīng)用: 3D封裝可以將傳感器、微處理器、存儲器、無線通信模塊(如NB-IoT、LoRa)和電源管理單元(PMIC)高效地集成在一個微小封裝內(nèi),形成完整的片上系統(tǒng)(SoS)。
汽車電子
場景: 自動駕駛(ADAS)、智能座艙、車載信息系統(tǒng)。
應(yīng)用: 需要處理大量傳感器(攝像頭、雷達(dá)、激光雷達(dá))數(shù)據(jù),對計算能力和可靠性要求極高。3D封裝可以提供高性能、小型化且符合車規(guī)級可靠性的解決方案,例如將多個處理器芯片與存儲器集成。
| 結(jié)構(gòu)類型 | 核心特點 | 主要應(yīng)用 |
| 2.5D 封裝 | 使用硅中介層,高帶寬,異構(gòu)集成,熱管理相對容易 | HPC, AI加速器, FPGA(配合HBM) |
| 3D 堆疊封裝 | 芯片垂直堆疊+TSV,極致帶寬和密度,最大小型化,熱挑戰(zhàn)大 | HBM內(nèi)存, 3D NAND, 高性能邏輯芯片堆疊 |
| 扇出型封裝 | 無TSV,通過RDL互連,成本較低,I/O數(shù)量多,易于異質(zhì)集成 | 移動SoC, 射頻模塊, 物聯(lián)網(wǎng)芯片 |

未來趨勢:
混合鍵合(Hybrid Bonding): 用銅-銅直接鍵合取代微凸塊,實現(xiàn)更小的間距、更高的密度和更佳的能效,如臺積電的SoIC技術(shù)。
光互連: 在封裝內(nèi)引入硅光技術(shù),用光代替電進(jìn)行數(shù)據(jù)傳輸,以突破“功耗墻”和“帶寬墻”。
芯粒(Chiplet): 3D封裝是芯粒模式得以實現(xiàn)的物理基礎(chǔ)。通過將大SoC拆分成多個小芯片(Chiplet),再用2.5D/3D技術(shù)集成,可以大幅提升良率、降低開發(fā)成本并加快上市時間。
3D封裝已經(jīng)從一項前沿技術(shù)發(fā)展成為推動整個半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)繼續(xù)向前發(fā)展的關(guān)鍵引擎,其應(yīng)用范圍必將從高端領(lǐng)域逐步擴(kuò)展到更廣泛的市場。
水基清洗的工藝和設(shè)備配置選擇對清洗精密器件尤其重要,一旦選定,就會作為一個長期的使用和運行方式。水基清洗劑必須滿足清洗、漂洗、干燥的全工藝流程。
污染物有多種,可歸納為離子型和非離子型兩大類。離子型污染物接觸到環(huán)境中的濕氣,通電后發(fā)生電化學(xué)遷移,形成樹枝狀結(jié)構(gòu)體,造成低電阻通路,破壞了電路板功能。非離子型污染物可穿透PC B 的絕緣層,在PCB板表層下生長枝晶。除了離子型和非離子型污染物,還有粒狀污染物,例如焊料球、焊料槽內(nèi)的浮點、灰塵、塵埃等,這些污染物會導(dǎo)致焊點質(zhì)量降低、焊接時焊點拉尖、產(chǎn)生氣孔、短路等等多種不良現(xiàn)象。
這么多污染物,到底哪些才是最備受關(guān)注的呢?助焊劑或錫膏普遍應(yīng)用于回流焊和波峰焊工藝中,它們主要由溶劑、潤濕劑、樹脂、緩蝕劑和活化劑等多種成分,焊后必然存在熱改性生成物,這些物質(zhì)在所有污染物中的占據(jù)主導(dǎo),從產(chǎn)品失效情況來而言,焊后殘余物是影響產(chǎn)品質(zhì)量最主要的影響因素,離子型殘留物易引起電遷移使絕緣電阻下降,松香樹脂殘留物易吸附灰塵或雜質(zhì)引發(fā)接觸電阻增大,嚴(yán)重者導(dǎo)致開路失效,因此焊后必須進(jìn)行嚴(yán)格的清洗,才能保障電路板的質(zhì)量。
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半導(dǎo)體技術(shù)應(yīng)用節(jié)點:FlipChip ;2D/2.5D/3D堆疊集成;COB綁定前清洗;晶圓級封裝;高密度SIP焊后清洗;功率電子清洗。